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151.
- Voltage Ramp Stress를 이용한 HfSiON/SiO2 Dielectric n-MOSFETs의 빠른 수명 추출 방법
- 노기윤
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포항공과대학교 일반대학원, 국내석사,
, 2016
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152.
- SiO₂ Dielectric nMOSFET의 Anomalous Drain Avalanche Hot Carrier 열화
- 윤여혁
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포항공과대학교 일반대학원, 국내석사,
78, 2018
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153.
- 전위장 방법에 기초한 주행로봇의 정밀운동제어
- 유하일
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한남대학교 일반대학원, 국내석사,
vii, 45 p., 2008
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154.
- 나노 미터급 MOSFET의 유효 채널 길이 추출 방법에 관한 연구
- 최환욱
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포항공과대학교 대학원, 국내박사,
x, 104 p., 2010
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155.
- Recess Channel Array Transistor에서 발생하는 Mechanical Stress의 추출 방법 및 Nanoscale MOSFETs의 신뢰성에 대한 연구 : Extraction of Mechanical Stress for Recess Channel Array Transistor and Study on Reliability in Nanoscale MOSFETs
- 이선행
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포항공과대학교 일반대학원, 국내박사,
96, 2013
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156.
- High-k pMOSFET의 Fast trapping/de-trapping charge가 NBTI 열화에 미치는 영향
- 김혁진
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포항공과대학교 일반대학원, 국내석사,
46, 2015
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157.
- 1:1 변압기를 이용한 AC-DC 부스트 컨버터의 전력 변환 효율 개선 연구
- 함석형
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포항공과대학교 일반대학원, 국내박사,
, 2020
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158.
- Fast method of Lifetime estimation for High-k nMOSFET and Study on electron trap distributions under PBTI
- 노기윤
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Pohang University of Science and Technology, 국내박사,
, 2020
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159.
- Negative Bias Temperature Instability Degradation in nanoscale SiON pMOSFETs
- 김강준
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포항공과대학교 일반대학원, 국내박사,
, 2017
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160.
- Edge-lit LED driver의 효율 향상을 위한 연구
- 최형진
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포항공과대학교 일반대학원, 국내석사,
62 p., 2011