총 167건 중 167건 출력
, 2/17 페이지
-
11
-
재활용 가능한 비가교형 전력케이블용 대체 절연재 기술 소개 및 향후 전력케이블 절연재 기술개발 전망과 과제
-
이흥규;
강성화;
임기조;
충주대학교 전기공학과;
충청대학 소방안전과;
충북대학교 전기공학부;
(전기전자재료 = Bulletin of the Korean institute of electrical and electronic material engineers,
v.24,
2011,
pp.3-12)
-
12
-
국내 배전급 XLPE 케이블의 절연 진단 기술 동향
-
강성화;
최한식;
윤재훈;
충청대학 소방안전과;
중소기업청 시험연구지원팀;
충북대학교 전기공학과;
(전기전자재료 = Bulletin of the Korean institute of electrical and electronic material engineers,
v.23,
2010,
pp.10-19)
-
13
-
침-평판 전극 구조에서 발생하는 기중 코로나 방전의 해석 기법
-
강성화;
박영국;
권순석;
정수현;
류부형;
임기조;
충청전문대학 산업안전과;
충북대학교 전기공학과;
충북대학교 전기공학과;
충북대학교 전기공학과;
동국대학교 산업안전공학과;
충북대학교 전기공학과;
(한국산업안전학회지,
v.11,
1996,
pp.49-53)
-
14
-
고체유전체에서 발생한 부시형 전기트리에 수반된 내부 부분방전 펄스 해석
-
강성화;
홍현문;
류부형;
충청대학 산업안전과;
동해대학 전기통신설비과;
동국대학교 안전공학과;
(한국산업안전학회지,
v.15,
2000,
pp.100-105)
-
15
-
LDPE에서 발생된 전기트리에 수반된 내부 부분방전 펄스 해석
-
Kang, S.H.;
Park, Y.G.;
Kwon, S.S.;
Shin, T.S.;
Lim, K.J.;
충청대학 산업안전과;
충북대학교 전기공학과;
충북대학교 전기공학과;
충북대학교 전기공학과;
충북대학교 전기공학과;
(한국산업안전학회지,
v.14,
1999,
pp.216-221)
-
16
-
부분방전 펄스파형의 시간-주파수분포를 이용한 기중부분방전원의 식별
-
이강원;
강성화;
임기조;
한국철도기술연구원;
충청대 소방안전과;
충북대 공대 전기전자공학부;
(전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. C/ C, 전기물성·응용부문,
v.54,
2005,
pp.332-338)
-
17
-
수력발전기 고정자 노후권선의 모의결함 시편에 대한 부분방전 파라미터 변화 분석
-
오봉근;
김현일;
강성화;
임기조;
한국수자원공사 수자원연구원;
한국수자원공사 수자원연구원;
충청대학 소방안전과;
충북대학교 전기전자컴퓨터공학부;
(전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers,
v.20,
2007,
pp.645-649)
-
18
-
XLPE 전력용 케이블 시편의 부분방전원 분류
-
박성희;
이강원;
강성화;
임기조;
충북대학교 전기전자컴퓨터공학부;
한국철도기술연구;
충청대학 산업안전;
충북대학교 전기전자컴퓨터공학부;
(전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers,
v.17,
2004,
pp.898-903)
-
19
-
<TEX>$CO^{60}- gamma$</TEX>선이 조사된 MOS Capacitors에서의 전기적 특성
-
권순석;
박흥우;
임기조;
류부형;
강성화;
충북대학교 전기공학과;
충북대학교 전기공학과;
충북대학교 전기공학과;
동국대학교 산업안전공학과;
충정전문대학 산업안전과;
(韓國眞空學會誌 = Journal of the Korean Vacuum Society,
v.4,
1995,
pp.402-406)
-
20
-
방사선조사에 따른 저밀도 폴리에틸렌의 유전특성
-
김기엽;
류부형;
강성화;
이청;
임기조;
한국원자력연구소 방사선응용연구팀;
동국대학교 안전공학과;
충청대학 산업안전과;
충북대학교 전기공학과;
충북대학교 전기공학과;
(전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers,
v.13,
2000,
pp.938-942)