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(Sr.Ca)TiO<tex> $_3$</tex>계 BL Capacitor재료의 유전특성에 관한 연구
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정규희;
김진사;
최운식;
김충혁;
이준웅;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
(한국전기전자재료학회 1993년도 추계학술대회 논문집,
v.1993,
1993,
pp.25-28)
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302
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<tex> $(Sr_{1-x}{ cdot}Ca_x)TiO_3$</tex>세라믹의 유전특성에 미치는 <tex> $Nb_2O_5$</tex> 첨가영향
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김진사;
정익형;
최운식;
김중혁;
이준웅;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
대불대학교 전기전자공학부;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
(한국전기전자재료학회 1996년도 추계학술대회 논문집,
v.1996,
1996,
pp.256-259)
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303
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<tex> $ITO/TPD/Alq_3/Al$</tex> 유기발광소자의 등가회로 분석
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안준호;
오용철;
홍진웅;
이준웅;
송민종;
김태완;
광운대학교;
광운대학교;
광운대학교;
광운대학교;
광주보건대학;
홍익대학교;
(한국전기전자재료학회 2004년도 하계학술대회 논문집 Vol.5 No.1,
v.2004,
2004,
pp.188-191)
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304
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유기 발광소자 ITO/Buffer <tex> $layer/TPD/Alq_3/LiAl$</tex> 구조에서의 수명 분석
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정동회;
최운식;
박권화;
이준웅;
김진철;
김태완;
광운대학교;
대불대학교;
광운대학교;
광운대학교;
경희대학교;
홍익대학교;
(한국전기전자재료학회 2004년도 하계학술대회 논문집 Vol.5 No.1,
v.2004,
2004,
pp.158-161)
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305
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Zinc phthalocyanine(ZnPC)/<tex> $C_{60}$</tex> 소자를 이용한 유기 광소자의 광기전특성
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이호식;
허성우;
오현석;
장경욱;
이준웅;
김태완;
동아대학교;
홍익대학교;
광운대학교;
경원전문대;
광운대학교;
홍익대학교;
(한국전기전자재료학회 2004년도 제6회 학술대회 논문집 일렉트렛트 및 응용기술연구회,
v.2004,
2004,
pp.31-34)
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306
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Grinding 조건이 Bi(Pb)SrCaCuO 계(系) 초전도체의 상변이에 미치는 영향
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조한대;
장경욱;
박용필;
이준웅;
광운대학교 대학원 전기공학과;
광운대학교 대학원 전기공학과;
광운대학교 대학원 전기공학과;
광운대학교 공과대학 전기공학과;
(대한전기학회 1991년도 하계학술대회 논문집,
v.1991,
1991,
pp.201-203)
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307
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<tex> $2({Y}_{3-x}Bi_x)({Fe}_{5-y}Al_y)O_{12}$</tex> 가네트의 x, y 변화에 따른 자기특성에 관한 연구
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홍기원;
박권화;
장경욱;
이준웅;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
(대한전기학회 1993년도 하계학술대회 논문집 B,
v.1993,
1993,
pp.1134-1136)
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308
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초저주파 검출을 위한 PVDF 일렉트렛트의 제작
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박용필;
박승엽;
홍진웅;
이성백;
이준웅;
광운대학교 대학원;
한국에너지연구소;
광운대학교;
광운대학교;
광운대학교;
(대한전기학회 1989년도 하계종합학술대회 논문집,
v.1989,
1989,
pp.367-369)
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309
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가속 열열화 시험에 의한 고정자 형권 코일의 절연특성에 관한 연구
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채승훈;
김상걸;
오현석;
신철기;
왕종배;
김기준;
이준웅;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
한국철도기술연구원;
시립인천전문대학;
전기전자재료학회장;
(한국전기전자재료학회 2000년도 하계학술대회 논문집,
v.2000,
2000,
pp.115-118)
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310
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Toughened Epoxy/Rubber계면의 교류 절연파괴 현상에 관한 연구
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김태형;
배덕권;
이동규;
정일형;
김충혁;
이홍표;
이준웅;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
광운대학교 전기공학과;
수원과학전문대학교 전기과;
한국전기전자재료 학회장;
(한국전기전자재료학회 2000년도 하계학술대회 논문집,
v.2000,
2000,
pp.771-774)