검색어 : 통합검색[반도체공학]
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- Window 밀폐형 광 커넥터의 허용 공차에 관한 연구
- 전우성; 정미숙; 한국공학대학교 나노반도체공학과; 한국공학대학교; (한국광학회지, v.33, 2022, pp.210-217)
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982
- 이종층 구조를 갖는 PZT 강유전 박막의 구조적 특성
- 이성갑; 이영희; 서남대 전기전자멀티미디어공학부; 광운대 반도체 및 신소재공학과; (전기전자재료 = Bulletin of the Korean institute of electrical and electronic material engineers, v.16, 2003, pp.22-27)
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983
- <TEX>$Co_2$</TEX> 레이저로 열처리된 SOI-PIN Photodiode의 제작 및 전기적 특성
- Chang, Sun-Ho; Kim, Gi-Hong; An, Chul; 금성반도체(주); 서강대학교 전자공학과; 서강대학교 전자공학과; (전자공학회논문지 = Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics, v.25, 1988, pp.1068-1073)
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- 고온.고습하에서 직교이방성 CFRP 복합적층판이 잔류피로 굽힘강도에 미치는 영향에 관한 연구
- 임광희; 양인영; 회원, 우석대학교 반도체전기자동차공학부; 회원, 조선대학교 기계공학부; (한국자동차공학회논문집 = Transactions of the Korean Society of Automotive Engineers, v.8, 2000, pp.247-258)
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985
- 유기금속 화학증착법을 이용한 탄탈륨 산화 박막의 층덮힘 특성 연구
- 박상규; 윤종호; 남갑진; 포항공과대학교 화학공학과; 포항공과대학교 화학공학과; 삼성전자 반도체 연구소; (한국재료학회지 = Korean journal of materials research, v.6, 1996, pp.106-115)
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986
- 고분자 중공사막 모듈을 이용한 미세기포 발생과 이미지 분석기법을 이용한 기포 특성 파악
- 김준영; 장인성; 호서대학교 반도체 디스플레이 공학과; 호서대학교 환경공학과; (대한환경공학회지 = Journal of Korean Society of Environmental Engineers, v.33, 2011, pp.447-452)
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- 4H-SiC SBD와 JBS 소자의 Deep Level Defect 비교 분석
- 변동욱; 신명철; 문정현; 방욱; 신원호; 오종민; 박철환; 구상모; 광운대학교 전자재료공학과; 광운대학교 전자재료공학과; 한국전기연구원 전력반도체연구센터; 한국전기연구원 전력반도체연구센터; 광운대학교 전자재료공학과; 광운대학교 전자재료공학과; 광운대학교 화학공학과; 광운대학교 전자재료공학과; (전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.34, 2021, pp.214-219)
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- 다결정 실리콘 이중전극 구조를 이용한 16<TEX>$ times$</TEX>16 이차원 전하결합 영상감지소자의 설계, 제작 및 동작
- 정지채; 오춘식; 김충기; 한국과학기술원 반도체 재료연구실; 한국과학기술원 전기 및 전자공학과; ; (電子工學會誌 = Journal of the Korean Institute of Electronics Engineers, v.22, 1985, pp.68-76)
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- 반도체 칩의 2차원 엑스선 영상에서 배경 제거를 위한 전처리 방법
- 오찬영; 조승룡; 이태원; 한국과학기술원 원자력및양자공학과; 한국과학기술원 원자력및양자공학과; 호서대학교 반도체공학과; (마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.31, 2024, pp.71-75)
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- 타임아웃 패턴에 기반한 TCP 혼잡 제어
- 임갑주; 연창환; 남상원; 이인환; 삼성전자 반도체사업부; 한양대 전자통신전파공학; 한양대 전자전기컴퓨터공학; 한양대 전자전기컴퓨터공학; (전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. D / D, 시스템 및 제어부문, v.53, 2004, pp.813-819)
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