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강봉구.
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1.
- Degradation of nanoscaled MOSFETs due to DC/AC electrical stress
- 손동희, 포항공과대학교 전자전기공학과, [2018]
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- Edge-lit LED driver의 효율 향상을 위한 연구
- 최형진, 포항공과대학교 일반대학원, [2011]
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7.
- Channel-width effect가 Nanoscale nMOSFET의 열화에 미치는 영향
- 손동희, 포항공과대학교 일반대학원, [2014]
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8.
- PDP 구동 회로의 검증장치 개발
- 성창현, 포항공과대학교 대학원, [2010]
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9.
- Fast method of Lifetime estimation for High-k nMOSFET and Study on electron trap distributions under PBTI
- 노기윤, Pohang University of Science and Technology, [2020]
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10.
- HDP/SOG STI로부터 발생한 STRAIN이 RECESS CHANNEL ARRAY TRANSISTOR 구조 DRAM의 DATA RETENTION TIME에 미치는 특성 평가 = EVALUATION OF DATA RETENTION TIME OF RECESS CHANNEL ARRAY TRANSISTOR STRUCTURE DRAM STRESSED BY HDP/SOG STI
- 이선행, Pohang University of Science and Technology, [2010]
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